Nouveaux équipements dans la plateforme : MEB HITACHI TM4000Plus & Syntax 300 de 3R

Dans le cadre d'un nouveau projet sur notre plateforme, nous avons acquis deux nouveaux équipements : un Microscope Électronique à Balayage (MEB) Hitachi TM4000Plus et une machine de traction Syntax 300 de 3R. 

Le MEB facilitera les observations et analyses de haute précision, puisqu'il offre un grossissement allant jusqu'à 3000 fois. Il est équipé d'une source d'électrons utilisant un filament de tungstène et peut fonctionner sous des tensions de 5, 10 ou 15 kV, avec les modes BSE, SE ou Mix (BSE+SE). Les dimensions maximales des échantillons pouvant être observés sont de 80 mm de diamètre et 50 mm de hauteur.

Quant à la machine de traction Syntax 300 de 3R , elle nous servira pour la caractérisation mécanique des matériaux composites ou métallique. 
L'acquisition de ces nouveaux moyens permettra de gagner, en qualité et en réactivité sur la caractérisation des matériaux et procédés.